GB∕T 6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分：微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(800.61KB)445714f1ca81b37f
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书书书
犐犆犛７１．１００．１０
犆犆犛 犎 １２
中华人民共和国国家标准
犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２０２２
代替 犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２００９
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法
第３０部分：微量元素含量的测定
波长色散犡射线荧光光谱法
犆犺犲犿犻犮犪犾犪狀犪犾
狔
狊犻狊犿犲狋犺狅犱狊犪狀犱犱犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狆
犺
狔
狊犻犮犪犾
狆
犲狉犳狅狉犿犪狀犮犲
狅犳犪犾狌犿犻狀犪
—犘犪狉狋３０
：
犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狋狉犪犮犲犲犾犲犿犲狀狋狊
—犠犪狏犲犾犲狀
犵
狋犺
犱犻狊
狆
犲狉狊犻狏犲犡狉犪
狔
犳犾狌狅狉犲狊犮犲狀犮犲狊
狆
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２０２２０３０９发布 ２０２２１００１实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会
发 布
书书书
前 言
本文件按照ＧＢ
／
Ｔ１．１
—
２０２０
《
标准化工作导则 第１部分：
标准化文件的结构和起草规则》
的规定
起草。
本文件是ＧＢ
／
Ｔ６６０９
《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法》的第３０部分。ＧＢ
／
Ｔ６６０９已经
发布了以下部分：
———第１部分：微量元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法；
———第２部分：
３００ ℃和１０００ ℃质量损失的测定；
———第３部分：钼蓝光度法测定二氧化硅含量；
———第４部分：
邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁含量；
———第５部分：
氧化钠含量的测定；
———第６部分：
氧化钾含量的测定；
———第７部分：
二安替吡啉甲烷光度法测定二氧化钛含量；
———第８部分：
二苯基碳酰二肼光度法测定三氧化二铬含量；
———第９部分：
新亚铜灵光度法测定氧化铜含量；
———第１０部分：
苯甲酰苯基羟胺萃取光度法测定五氧化二钒含量；
———第１１部分：
火焰原子吸收光谱法测定一氧化锰含量；
———第１２部分：
氧化锌含量的测定 火焰原子吸收光谱法；
———第１３部分：
火焰原子吸收光谱法测定氧化钙含量；
———第１４部分：
镧
茜素络合酮分光光度法测定氟含量；
———第１５部分：硫氰酸铁光度法测定氯含量；
———第１６部分：
姜黄素分光光度法测定三氧化二硼含量；
———第１７部分：
钼蓝分光光度法测定五氧化二磷含量；
———第１８部分：
犖
，
犖
二甲基对苯二胺分光光度法测定硫酸根含量；
———第１９部分：氧化锂含量的测定 火焰原子吸收光谱法；
———第２０部分：火焰原子吸收光谱法测定氧化镁含量；
———第２１部分：丁基罗丹明Ｂ分光光度法测定三氧化二镓含量；
———第２２部分：取样；
———第２３部分：
试样的制备和贮存；
———第２４部分：安息角的测定；
———第２５部分：松装密度的测定；
———第２６部分：有效密度的测定 比重瓶法；
———第２７部分：粒度分析 筛分法；
———第２８部分：小于６０μ
ｍ的细粉末粒度分布的测定 湿筛法；
———第２９部分：吸附指数的测定；
———第３０部分：微量元素含量的测定 波长色散 Ｘ射线荧光光谱法；
———第３１部分：流动角的测定；
———第３２部分：
α
三氧化二铝含量的测定 Ｘ
射线衍射法；
———第３３部分：磨损指数的测定；
———第３４部分：三氧化二铝含量的计算方法；
Ⅰ
犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２０２２
———第３５部分：
比表面积的测定 氮吸附法；
———第３６部分：
流动时间的测定；
———第３７部分：
粒度小于２０μ
ｍ颗粒含量的测定。
本文件代替ＧＢ
／
Ｔ６６０９．３０
—
２００９
《
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第３０部分：
Ｘ射线
荧光光谱法测定微量元素》，
与ＧＢ
／
Ｔ６６０９．３０
—
２００９相比，
除结构调整和编辑性改动外，
主要技术变化
如下：
ａ
）
将标准名称更改为“
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第３０部分：
微量元素含量的
测定 波长色散 Ｘ射线荧光光谱法”；
ｂ
）
增加了采用研磨压片法时样品称样量、
研磨压片制样条件和方法精密度数据（
见第６章）；
ｃ
）
删除了附录Ａ“
Ｘ射线荧光光谱仪工作参数”
的内容（
见２００９年版附录 Ａ）。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国有色金属工业协会提出。
本文件由全国有色金属标准化技术委员会（
ＳＡＣ
／
ＴＣ２４３
）
归口。
本文件起草单位：
中铝郑州有色金属研究院有限公司、
昆明冶金研究院有限公司、
中铝矿业有限公
司、
广东省科学院工业分析检测中心、
内蒙古霍煤鸿骏铝电有限责任公司、
岛津企业管理（
中国）
有限公
司、
国标（
北京）
检验认证有限公司、
云南铝业股份有限公司。
本文件主要起草人：
白万里、
李志刚、
马慧侠、
刘静、
彭展、
孙佳、
刘英波、
张胜、
杨海岸、
邓素萍、
王攀、
崔伟、于磊、杜晨霞。
本文件于２００９年首次发布，
本次为第一次修订。
Ⅱ
犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２０２２
引 言
ＧＢ
／
Ｔ６６０９
《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法》是氧化铝化学分析方法和物理性能测定方
法的系列标准，
包含氧化铝试样制备贮存、
水分灼减测定、
化学元素成分分析、
粒度分析、
松装密度等共
计３７个部分，
用于氧化铝化学和物理分析操作的技术规范，
在氧化铝贸易结算、
化学元素测定比对等多
领域应用广泛。ＧＢ
／
Ｔ６６０９．３０ 规定了波长色散Ｘ射线荧光光谱法测定氧化铝中微量元素含量的
方法。
由于工业连续生产及时性的需要，
国内外很多氧化铝或电解铝厂均采用 ＸＲＦ分析，
用同一种制样
技术，
即高温熔融制样法。由于熔融法制样熔剂稀释的方法要求，
其荧光计数强度下降较严重，
可能影
响低含量的硅、
磷、
钛等超低元素测定，
粉末压片法制样由于操作简便、
高荧光计数强度以及低成本优
势，
使得该方法在行业内得到快速推广应用。
本次对 ＧＢ
／
Ｔ６６０９．３０的修订，
明确规定波长色散 Ｘ荧光分析方法，“
研磨压片法”
增强了 ＸＲＦ方
法的灵活性，
扩大了相关ＸＲＦ法的制样途径，
弥补标准和实际测定的脱节，
进一步提高相关企业压片法
的操作规范性和ＸＲＦ分析的精确度标尺，
为氧化铝相关企业的氧化铝压片法分析对比、
交流提供依据，
同时进一步健全完善了氧化铝化学元素测定分析体系。
Ⅲ
犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２０２２
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法
第３０部分：微量元素含量的测定
波长色散犡射线荧光光谱法
１
范围
本文件规定了波长色散Ｘ射线荧光光谱法测定氧化铝中微量元素含量的方法，
包括熔融制样法和
研磨压片法，
熔融制样法为仲裁方法。
本文件适用于波长色散Ｘ射线荧光光谱法测定冶金级氧化铝中微量元素钠、硅、铁、钙、钾、钛、磷、
钒、
锌和镓（
用氧化物表示为 Ｎａ
２Ｏ、
ＳｉＯ
２、
Ｆｅ
２Ｏ
３、
ＣａＯ、
Ｋ
２Ｏ、
ＴｉＯ
２、
Ｐ
２Ｏ
５、
Ｖ
２Ｏ
５、
ＺｎＯ 和Ｇａ
２Ｏ
３）
含量，
其他氧化铝品种可参考使用本文件的方法。测定范围见表１
。
表１
测定范围
％
组分 测量范围 组分 测量范围
Ｎａ
２Ｏ ０．１０
～
１．００ ＴｉＯ
２０．００１０
～
０．０１０
ＳｉＯ
２０．００５０
～
０．１０ Ｐ
２Ｏ
５０．００１０
～
０．０３０
Ｆｅ
２Ｏ
３０．００５０
～
０．１０ Ｖ
２Ｏ
５０．００１０
～
０．０１０
ＣａＯ ０．０１０
～
０．１５ ＺｎＯ ０．００１０
～
０．０２０
Ｋ
２Ｏ ０．００１０
～
０．１０ Ｇａ
２Ｏ
３０．００１０
～
０．０５０
２
规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，
注日期的引用文
件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于
本文件。
ＧＢ
／
Ｔ６６０９．２２
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第２２部分：取样
ＧＢ
／
Ｔ６６０９．２３
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第２３部分：试样的制备和贮存
ＧＢ
／
Ｔ８１７０
数值修约规则与极限数值的表示和判定
３
术语和定义
本文件没有需要界定的术语和定义。
４
试样
４．１
按照 ＧＢ
／
Ｔ６６０９．２２取样。
１
犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２０２２
４．２
按照 ＧＢ
／
Ｔ６６０９．２３制样后，
将试样于３００ ℃±５ ℃干燥２ｈ
，
置于干燥器中冷却至室温。
５
熔融制样法
５．１
原理
试样用混合熔剂熔融成透明玻璃片，
测量玻璃片中待测元素的 Ｘ射线荧光强度，
根据校准曲线或
方程计算出相应的微量元素含量。
５．２
试剂
５．２．１
熔剂：
四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂［
Ｌｉ
２
Ｂ
４Ｏ
７（
１２
）
＋ＬｉＢＯ
２（
２２
）］，
优级纯。熔剂应在７００ ℃灼
烧２ｈ
，
在干燥器中冷却备用。
５．２．２
脱模剂：
溴化锂饱和溶液或碘化铵溶液（
３００ｇ
／
Ｌ）。
５．２．３
校准试样：
和被测试样相似的氧化铝系列标准样品或有证标准样品，
标准样品的每个元素均应
有足够的含量范围又有一定梯度，如上述标准样品不能满足时，使用标准溶液（
５．２．５）进行人工配制
补充。
５．２．４
监控样品：
均匀稳定的样片，
含有所有校准元素，
其浓度应使其计数率的统计误差小于或等于校
准元素的计数率统计误差。
５．２．５
标准溶液：
标准溶液包含所测元素，
推荐使用市售有证系列标准溶液。
５．３
仪器和设备
５．３．１
铂
金合金坩埚（
９５％Ｐｔ＋５％Ａｕ
）。
５．３．２
铂
金合金铸模（
９５％Ｐｔ＋５％Ａｕ
），
铸模材料底厚度不少于１ｍｍ。熔样器皿和铸模可合二为一，
若试样在坩埚中熔融后直接成型，
则要求坩埚底面内壁平整光滑。
５．３．３
熔样炉：
可控温的电阻炉或高频感应炉，
能加热到１０５０℃～
１２５０℃。也可采用自动熔融设备，
最高温度不低于１２００ ℃。
５．３．４
波长色散Ｘ射线荧光光谱仪，端窗铑靶 Ｘ射线管。
５．３．５
烘箱：能控制温度在３００℃±５℃。
５．３．６
干燥器：采用活性氧化铝（活性氧化铝在使用前应在３００ ℃±５ ℃加热活化）或五氧化二磷为干
燥剂。
５．４
试验步骤
５．４．１
平行试验
平行做两次试验，取其平均值。
５．４．２
试样片的制备
５．４．２．１
称量和混合试料：
根据铸模规格称取适量试样（
４．２
）
和熔剂（
５．２．１
）。试样和熔剂称量质量比例
为１∶２
～
１∶５
，
放入铂
金合金坩埚（
５．３．１
）
内搅拌均匀，
加入３滴脱模剂（
５．２．２
）。
５．４．２．２
熔融：将混合试料（见５．４．２．１
）放入熔样炉（
５．３．３
）在１１００ ℃±２５ ℃熔融１５ｍｉｎ
，熔融过程应
转动坩埚，使粘在坩埚壁上的小熔珠和试样进入熔融体中。每隔一定时间，熔样炉自动摇动坩埚，将气
泡赶尽，并使熔融物混匀。
２
犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２０２２
５．４．２．３
浇铸：
将坩埚内熔融试料（
见５．４．２．２
）
倾入已加热至８００ ℃以上的铸模（
５．３．２
）
中。试料在坩埚
中熔融后直接成型的应在冷却前摇动坩埚，
赶出气泡。将铸模移离炉膛，
冷却后将玻璃片与铸模剥离。
５．４．２．４
样片的保存：
熔融好的样片应不结晶、
无裂纹、
没有气泡。取出样片，
在非测量面贴上标签，
直
接测定或放于干燥器内保存，防止吸潮和污染。测量时，只能接触样片的边缘，以避免 Ｘ射线测量面的
沾污。
５．４．３
校准曲线绘制及漂移校准设置
５．４．３．１
校准曲线绘制：选择不少于５个的校准试样（
５．２．３
），按５．４．２步骤制备标准试样片。在仪器最
佳测量条件下，测量标准试样片中待测元素的 Ｘ射线荧光强度，以标准试样片中待测元素含量为横坐
标，
Ｘ射线荧光强度为纵坐标，
绘制校准曲线。
５．４．３．２
漂移校准设置：在绘制校准曲线同时，设置监控样品名，测量监控样品（
５．２．４
）中分析元素的 Ｘ
射线荧光强度，
为后续仪器漂移校准提供初始测量强度。为保证漂移校准的有效性，
监控样品的初次测
量和标准试样片测量应在同一时间段内完成。可采用单点校准或两点校准，
时间间隔根据仪器的稳定
性确定。
５．４．４
校准曲线校正
可根据仪器情况选择合适的校准方程，对有谱线重叠干扰的元素，应进行谱线重叠干扰校准。氧化
铝基体中需要测定的元素含量较低，
可不考虑基体效应的影响。
５．４．５
试样片测量
启动定量分析程序，
利用已绘制校准曲线，
测量与待测试样片同批制备的标准试样片，
如果分析结
果满足表２规定的重复性要求，输入未知样品名，测量待测试样片，读取测定结果。如果标准试样片对
照结果未能满足表２规定，
应测量监控样品，
进行仪器漂移校准，
如果校准后仍不满足要求，
应进行问题
查找，
重新校准曲线或重新制作工作曲线，
直至标准试样片对照结果满足表２要求，
方可测定待测试
样片。
５．５
试验数据处理
试样中各待测元素含量以质量分数（
狑
）计，结果保留两位有效数字。数值修约按照 ＧＢ
／
Ｔ８１７０的
规定执行。
５．６
精密度
５．６．１
重复性
在重复性条件下获得的两个独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果
的绝对差值不超过表２给定的重复性限（
狉
），超过重复性限（
狉
）的情况不超过５％。重复性限（
狉
）按表２
数据采用线性内差法或外延法求得。
３
犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２０２２
表２
重复性
％
组分 含量
狉
组分 含量
狉
Ｎａ
２Ｏ
０．３１ ０．０１
０．５０ ０．０２
０．６７ ０．０２
ＴｉＯ
２
０．００１０ ０．０００５
０．００２８ ０．０００８
— —
ＳｉＯ
２
０．０１８ ０．００３
０．０４２ ０．００７
０．１０ ０．０１
Ｐ
２Ｏ
５
０．００１０ ０．０００６
０．００３１ ０．００１１
— —
Ｆｅ
２Ｏ
３
０．００４９ ０．０００９
０．０１２ ０．００２
０．０５３ ０．００７
Ｖ
２Ｏ
５
０．００１０ ０．０００６
０．００１６ ０．０００９
— —
ＣａＯ
０．０３８ ０．００２
０．０７６ ０．００４
０．１１ ０．０１
ＺｎＯ
０．００１１ ０．０００３
０．００２９ ０．０００５
０．００４９ ０．００１０
Ｋ
２Ｏ
０．００６４ ０．０００８
０．０３１ ０．００２
０．０７０ ０．００３
Ｇａ
２Ｏ
３
０．０１１ ０．００１
０．０１５ ０．００１
０．０１８ ０．００２
５．６．２
允许差
实验室之间分析结果的差值不大于表３所列允许差。
表３
允许差
％
组分 含量 允许差 组分 含量 允许差
Ｎａ
２Ｏ ０．１０
～
１．００ ０．０５２１Ｃ
ａ＋０．００５ ＴｉＯ
２０．００１０
～
０．０１０ ０．００１３
ＳｉＯ
２
０．００５０
～
０．０５０ ０．００８０
＞
０．０５０
～
０．１０ ０．０１２ Ｐ
２Ｏ
５０．００１０
～
０．０３０ ０．００３５
Ｆｅ
２Ｏ
３
０．００５０
～
０．０１５ ０．００４０
＞
０．０１５
～
０．０６０ ０．００６０
＞
０．０６０
～
０．１０ ０．０１０
Ｖ
２Ｏ
５
０．００１０
～
０．００５０ ０．００１０
＞
０．００５０
～
０．０１０ ０．００１５
— —
ＣａＯ
０．０１０
～
０．０３０ ０．００６
＞
０．０３０
～
０．１０ ０．０１５
＞
０．１０
～
０．１５ ０．０３
ＺｎＯ
０．００１０
～
０．００７５ ０．００１５
＞
０．００７５
～
０．０２０ ０．００２５
— —
Ｋ
２Ｏ
０．００１０
～
０．０１２ ０．００１０
＞
０．０１２
～
０．０５０ ０．００６
＞
０．０５０
～
０．１２ ０．０１２
Ｇａ
２Ｏ
３
０．００１０
～
０．０２０ ０．００２０
＞
０．０２０
～
０．０５０ ０．００４
— —
ａＣ是样品的氧化钠的平均含量（质量分数）。
４
犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２０２２
６
研磨压片法
６．１
原理
将试样和分散剂按一定比例混合、
研磨，
将研磨后粉体加压制成样片，
测量样片中待测元素的 Ｘ射
线荧光强度，
根据校准曲线或方程计算出相应的微量元素含量。
６．２
试剂
６．２．１
分散剂：
１
，
２
丙二醇或满足重复性测定要求的其他试剂。
６．２．２
镶边垫衬材料：
硼酸、
铝环、
聚乙烯环等，
工业纯及以上。
６．２．３
校准试样：
和被测试样相似的氧化铝列标准样品或有证标准样品，
标准样品的每个元素均应有
足够的含量范围又有一定梯度，
如上述标准样品不能满足时，
使用标准溶液（
６．２．６
）
或高纯试剂（
６．２．７
）
进行人工配制补充。
６．２．４
监控样品：
均匀稳定的样片，
含有所有校准元素，
其浓度应使其计数率的统计误差小于或等于校
准元素的计数率统计误差。
６．２．５
乙醇，
分析纯。
６．２．６
标准溶液：标准溶液包含所测元素，推荐使用市售有证系列标准溶液。
６．２．７
高纯试剂：
氧化铝、
碳酸钠、
二氧化硅、
三氧化二铁、
二氧化钛、
碳酸钙、
碳酸钾、
磷酸钙、
氧化锌、
三氧化二镓等，
纯度达到优级纯或光谱纯。
６．３
仪器和设备
６．３．１
烘箱：
能控制温度在３００ ℃±５ ℃。
６．３．２
震动研磨机及碳化钨研钵。
６．３．３
压片机：压片机最大压力在２５ｔ以上。
６．３．４
模具：
模具的内径在３５ｍｍ 以上为宜。
６．３．５
波长色散 Ｘ射线荧光光谱仪，端窗铑靶 Ｘ射线管。
６．３．６
干燥器：
采用活性氧化铝（
活性氧化铝在使用前应在３００ ℃±５ ℃加热活化）
或五氧化二磷为干
燥剂。
６．３．７
称量瓶：含盖，直径５０ｍｍ～
７０ｍｍ。
６．４
试验步骤
６．４．１
平行试验
平行做两次试验，取其平均值。
６．４．２
试样片的制备
６．４．２．１
称量：称取１０．０ｇ
～
１５．０ｇ试样（
４．２
）于称量瓶（
６．３．７
）中，盖好盖子，称量质量精确至０．１ｇ
。
６．４．２．２
试样的混合和研磨：将称量好的试样倾倒入碳化 钨研钵（
６．３．２）中，加入一定量的分散剂
（
６．２．１
），于震动研磨机（
６．３．２
）中研磨一定时间，同时达到混合和研磨的目的。因不同实验室之间试剂、
研磨器材等方面的差异，确定研磨时间应以条件试验为依据。推荐研磨条件：
１０．０ｇ
±０．１ｇ试样，加入
２滴１
，
２
丙二醇，研磨１００ｓ
。被测试样和校准试样（
６．２．３
）的制样条件要一致。每一次研磨后均用乙醇
（
６．２．５
）震动清洗料钵，避免污染。
６．４．２．３
压片：将混合、研磨好的试样（见６．４．２．２
）倒入模具（
６．３．４
），利用镶边垫衬材料（
６．２．２
）镶边，用
压片机（
６．３．３）加压至总压力为２０ｔ以上，并保 持 ２０ｓ以上，取出样片直接 测 定 或 保 存 于 干 燥 器
５
犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２０２２
（
６．３．６
）
内。
６．４．３
校准曲线绘制及漂移校准设置
６．４．３．１
校准曲线绘制：
选择不少于５个的校准试样（
６．２．３
），
按６．４．２步骤制备标准试样片。在仪器最
佳测量条件下，测量标准试料片中待测元素的 Ｘ射线荧光强度，以标准试样片中待测元素含量为横坐
标，
Ｘ射线荧光强度为纵坐标，
绘制校准曲线。
６．４．３．２
漂移校准设置：
在绘制校准曲线同时，
设置监控样品名，
测量监控样品（
６．２．４
）
中分析元素的 Ｘ
射线荧光强度，
为后续仪器漂移校准提供初始测量强度。为保证漂移校准的有效性，
监控样品的初次测
量和标准试样片测量应在同一时间段内完成。可采用单点校准或两点校准，
时间间隔根据仪器的稳定
性确定。
６．４．４
校准曲线校正
可根据仪器情况选择合适的校准方程，
对有谱线重叠干扰的元素，
应进行谱线重叠干扰校准。氧化
铝基体中需要测定的元素含量较低，可不考虑基体效应的影响。
６．４．５
试样片测量
启动定量分析程序，利用已绘制校准曲线，测量与待测试样片同批制备的标准试样片，如果分析结
果满足表４规定的重复性要求，输入未知样品名，测量待测试样片，读取测定结果。如果标准试样片对
照结果未能满足表４规定，
应测量监控样品，
进行仪器漂移校准，
如果校准后仍不满足要求，
应进行问题
查找，
重新校准曲线或重新制作工作曲线，
直至标准试样片对照结果满足表４要求，
方可测定待测试
样片。
６．５
试验数据处理
试样中各待测元素含量以质量分数（
狑
）
计，
结果保留小数点后两位有效数字。数值修约按照
ＧＢ
／
Ｔ８１７０ 的规定执行。
６．６
精密度
６．６．１
重复性
在重复性条件下获得的两个独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果
的绝对差值不超过表４给定的重复性限（
狉
），超过重复性限（
狉
）的情况不超过５％。重复性限（
狉
）按表４
数据采用线性内差法或外延法求得。
表４
重复性
％
组分 含量
狉
组分 含量
狉
Ｎａ
２Ｏ
０．１９ ０．０２
０．２９ ０．０２
０．４２ ０．０４
ＴｉＯ
２
０．００１０ ０．０００５
０．００２２ ０．０００７
０．００３９ ０．００１０
ＳｉＯ
２
０．００９６ ０．００３５
０．０２６ ０．００５
０．０５８ ０．００７
Ｐ
２Ｏ
５
０．００１０ ０．０００６
０．００２０ ０．００１０
— —
６
犌犅
／
犜６６０９．３０
—
２０２２
摘要：
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书书书犐犆犛７１．１００．１０犆犆犛犎１２中华人民共和国国家标准犌犅／犜６６０９．３０—２０２２代替犌犅／犜６６０９．３０—２００９氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第３０部分：微量元素含量的测定波长色散犡射线荧光光谱法犆犺犲犿犻犮犪犾犪狀犪犾狔狊犻狊犿犲狋犺狅犱狊犪狀犱犱犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狆犺狔狊犻犮犪犾狆犲狉犳狅狉犿犪狀犮犲狅犳犪犾狌犿犻狀犪—犘犪狉狋３０：犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狋狉犪犮犲犲犾犲犿犲狀狋狊—犠犪狏犲犾犲狀犵狋犺犱犻狊狆犲狉狊犻狏犲犡狉犪狔犳犾狌狅狉犲狊犮犲狀犮犲狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉犻犮犿犲狋犺狅犱 ２０２２０３０９发布２０２２１００１实施国家...
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